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  • 纳米二氧化硅

纳米二氧化硅

  • MF : SiO2
  • MW: 60.0843
  • CAS: 14808-60-7
  • EINECS: 238-878-4
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平均粒度

(nm)

纯度

(%)

比秒面积

(m2/g)

体积密度(g/cm3)

密度(g/cm3)

晶型

颜色

15nm

99.5%

600

0.05

2.2-2.6

Spherical

White

20

>99.9

240

0.06

2.2-2.6

Spherical

White

50

>99.9

200

0.09

2.2-2.6

Spherical

White

500

>99.9

46

0.14

2.2-2.6

Spherical

White

1000

>99.9

30

0.17

2.2-2.6

Spherical

White

纳米氧化硅颗粒尺寸小、粒径分布窄、微孔多、比表面积大、表面羟基含量高、紫外线、可见光及红外线反射能力强等特点。;经BET法测试分析,纳米氧化硅比表面积大;经红外光谱分析,纳米氧化硅表面存在大量的羟基和不饱和残键,并偏离了稳态的硅氧结构;采用Cary-5E分光光谱仪测试,纳米氧化硅对紫外光中、长波以及可见光有很高的反射率;用Omnisorp100CX比表面和孔隙率分析仪测得P型纳米氧化硅的表面含有许多纳米级微孔,其孔隙率达0.611ml/g。

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